logo móvil
Contáctanos

El impacto de los defectos estructurales en la adsorción de yodo en UiO-66

Autores: Maddock, John; Kang, Xinchen; Liu, Lifei; Han, Buxing; Yang, Sihai; Schröder, Martin

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2021

Descargar PDF

Acceso abierto

Artículo científico
2021

El impacto de los defectos estructurales en la adsorción de yodo en UiO-66


Categoría

Ciencias Naturales y Subdisciplinas

Subcategoría

Química

Palabras clave

Materiales
Captura
Almacenamiento
MOFs
Yodo
Radiactivo

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 13

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
El yodo radiactivo I, producido como un subproducto de la fisión nuclear, representa un riesgo para la salud pública si se libera en el medio ambiente, por lo que es vital desarrollar materiales que puedan capturar el vapor de I. Los materiales diseñados para la captura y almacenamiento de I deben tener una alta capacidad de absorción y ser estables para el almacenamiento a largo plazo debido a la larga vida media del I. UiO-66 es un marco organometálico (MOF) altamente estable y fácilmente ajustable en el que se pueden introducir sitios de defecto. Aquí, se sintetizó una forma defectuosa de UiO-66 (UiO-66-FA) y se confirmó la presencia de grupos de clúster faltantes utilizando microscopía de fluorescencia confocal y mediciones de adsorción de gas. La absorción de vapor de I en UiO-66-FA se midió utilizando análisis termogravimétrico acoplado a espectrometría de masas (TGA-MS) y se determinó en 2.25 g g, casi el doble que (1.17 g g) el UiO-66 prístino. Este estudio inspirará el diseño de nuevos almacenes eficientes de I basados en MOFs que incorporen defectos estructurales.

Otros recursos que podrían interesarte

Temas Virtualpro