La industria nuclear y otros entornos de alta radiación a menudo necesitan equipos de monitoreo remoto con cámaras avanzadas para lograr operaciones de control remoto precisas. Los sensores de imagen CMOS, como componente crítico de estas cámaras, se exponen a la irradiación de rayos gamma mientras operan en tales entornos, lo que causa degradación del rendimiento que afecta negativamente la resolución de la cámara. Este estudio realizó experimentos de dosis total de ionización en sensores de imagen CMOS y sistemas de cámaras y analizó exhaustivamente los mecanismos de impacto de la corriente oscura, la capacidad total de pozo y la eficiencia cuántica de los sensores de imagen CMOS en la resolución de la cámara. Se estableció una fórmula de evaluación cuantitativa para evaluar el impacto de la capacidad total de pozo y la eficiencia cuántica del sensor de imagen CMOS en la resolución de la cámara. Este estudio proporciona una base teórica para la evaluación de la resistencia a la radiación de las cámaras en entornos con fuerte radiación nuclear y el desarrollo de cámaras resistentes a la radiación.