Este trabajo investigó experimentalmente los comportamientos de despertar de los capacitores ferroeléctricos basados en óxido de hafnio al manipular el tiempo de intervalo entre cada ciclo de caracterización. Se utilizaron tanto formas de onda Positivo-Arriba-Negativo-Abajo (PUND) como Negativo-Abajo-Positivo-Arriba (NDPU) como formas de onda de estrés y medición en los experimentos. Se encontró que la impresión ocurre a medida que el tiempo total de intervalo aumenta a un nivel de varios segundos. Sin embargo, esto solo afecta la polarización remanente de los capacitores ferroeléctricos cuando se someten a formas de onda NDPU, ya que la amplitud del voltaje se satura bajo condiciones de estrés PUND y no influye en la polarización remanente. Se ha demostrado que el comportamiento de despertar es causado por la redistribución de defectos durante el ciclo eléctrico. Es importante destacar que al utilizar formas de onda PUND, el cambio en el tiempo de intervalo puede resultar en diferentes tasas de aumento de la polarización remanente, lo que indica la posibilidad de recuperación durante los intervalos. Esta recuperación conduce a un despertar más lento cuando se cicla con un tiempo de intervalo más largo. Además, se observa que esta recuperación podría alcanzar la saturación después de varios segundos del tiempo de intervalo. Esta investigación exhaustiva de los comportamientos de despertar e impresión puede proporcionar nuevas perspectivas para evaluar y mejorar la fiabilidad de las memorias ferroeléctricas.