Eedd: detección de defectos en PCB basada en energía guiada por bordes
Autores: Deng, Shuixin; Deng, Lei; Sun, Ting; Yu, Shijie; Wang, Li; Chen, Baohua; Hu, Hao; Xie, Yusen; Yin, Hanxi; Xiao, Junwei; Cui, Xinglong; Fu, Yeyu; Tang, Xuewei; Song, Ruirui; Li, Lin; Xiao, Shanpeng; Li, Yuan; Li, Yizheng
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Eedd: detección de defectos en PCB basada en energía guiada por bordes
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Placa de circuito impreso
Detección de defectos
Métodos de aprendizaje profundo
Método basado en energía
Información de borde
Alineación de imágenes
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 39
Citaciones: Sin citaciones
La detección de defectos en placas de circuito impreso (PCB) es crítica para garantizar la seguridad de los dispositivos electrónicos, especialmente en la industria espacial. Los métodos no basados en referencia, típicamente los métodos de aprendizaje profundo, sufren de una gran cantidad de requisitos de datos anotados y una baja interpretabilidad.
Descripción
La detección de defectos en placas de circuito impreso (PCB) es crítica para garantizar la seguridad de los dispositivos electrónicos, especialmente en la industria espacial. Los métodos no basados en referencia, típicamente los métodos de aprendizaje profundo, sufren de una gran cantidad de requisitos de datos anotados y una baja interpretabilidad.