El monitoreo de condición (CM) de dispositivos semiconductores de potencia mejora la confiabilidad del convertidor y el servicio al cliente. Muchos estudios han investigado los modos de falla de los dispositivos semiconductores, las tecnologías de sensores y las técnicas de procesamiento de señales para optimizar el CM. Además, la mejora del CM de los dispositivos de potencia gracias al uso de Internet de las cosas y tecnologías de inteligencia artificial está en aumento en redes inteligentes, electrificación del transporte, y así sucesivamente. Estas tecnologías serán ampliamente utilizadas en el futuro, donde técnicas más inteligentes y sensores inteligentes permitirán una mejor estimación del estado de salud (SOH) de los dispositivos. Dado el aumento en el uso de convertidores de potencia, el CM es esencial ya que el análisis de los datos obtenidos de múltiples sensores permite predecir el SOH, lo que, a su vez, permite programar adecuadamente el mantenimiento, es decir, teniendo en cuenta el equilibrio entre el costo de mantenimiento y el costo y problemas debido a la falla del dispositivo. Desde esta perspectiva, este documento de revisión resume desarrollos pasados y avances recientes de los diversos métodos con el objetivo de describir el estado actual de la investigación en CM.