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Una distribución de fase de tipo de corte en fiabilidad. Una aplicación a las memorias de acceso aleatorio resistivas

Autores: Acal, Christian; Ruiz-Castro, Juan E.; Maldonado, David; Roldán, Juan B.

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2021

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Acceso abierto

Artículo científico
2021

Una distribución de fase de tipo de corte en fiabilidad. Una aplicación a las memorias de acceso aleatorio resistivas


Categoría

Matemáticas

Subcategoría

Matemáticas generales

Palabras clave

Distribución de probabilidad
Datos de vida
Confiabilidad
Distribución de tipo fase
Tasa de riesgo
Máxima verosimilitud

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 40

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Se introduce una nueva distribución de probabilidad para estudiar datos de tiempo de vida en confiabilidad en este documento. Este es un primer enfoque a una distribución de tipo fase no homogénea. Se construye considerando un punto de corte en la semi-recta no negativa de una distribución de tipo fase. La función de densidad está definida y las principales medidas asociadas, como la función de confiabilidad, tasa de riesgo, tasa de riesgo acumulada y la función característica, también se desarrollan. Esta nueva clase de distribuciones nos permite disminuir el número de parámetros en la estimación cuando se considera la inferencia. Además, se construye la distribución de verosimilitud para estimar los parámetros del modelo por máxima verosimilitud. Varias aplicaciones considerando Memorias de Acceso Aleatorio Resistivas comparan el ajuste cuando se consideran distribuciones de tipo fase y distribuciones de tipo fase con un punto de corte. La metodología desarrollada ha sido implementada computacionalmente en R-cran.

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