Este documento presenta un esquema de corrección del ciclo de trabajo basado en muestreo asíncrono y análisis de estabilización asociado. El circuito corrector propuesto consume menos energía y área en comparación con otros circuitos correctores debido a la operación de baja frecuencia del muestreo asíncrono. Sin embargo, el comportamiento de estabilización de un corrector de ciclo de trabajo de muestreo asíncrono está limitado en algunas condiciones de operación, lo que degrada su robustez y rendimiento. Por lo tanto, este documento realiza un análisis sobre el comportamiento de estabilización del muestreo asíncrono en diversas condiciones de operación y propone un esquema de control para evitar la estabilización retardada. Para verificar el corrector de ciclo de trabajo propuesto y su análisis, se implementa un diseño prototipo en un proceso CMOS de 40 nm y se verifica su rendimiento mediante simulaciones posteriores al diseño. El corrector de ciclo de trabajo propuesto logró errores de ciclo de trabajo muy pequeños (menos del 0.8%) y consumió 540 uW por una unidad de DCC.