Este documento presenta un diseño novedoso de doble nodo alterado (DNU) auto-recuperable y de filtro de pulso de evento único transitorio (SET) en tecnología CMOS de 28 nm. La estructura de bucle formada por elementos C (CEs) garantiza que el latch pueda auto-recuperarse de los DNUs. Un disparador de Schmitt en la salida puede filtrar los pulsos transitorios desde cualquier parte del circuito. Un canal de inversor controlado por reloj que conecta la entrada con la salida reduce la latencia de transmisión. Los resultados de la simulación muestran que el diseño propuesto es completamente inmune a los DNUs, y el producto de área de potencia de retraso (DPAP) se reduce en más del 50% en comparación con el diseño anterior.