Diagnóstico suave de fallas de circuitos analógicos basado en EEMD y MF-DFA mejorado
Autores: Lu, Xinmiao; Lu, Zihan; Wu, Qiong; Wang, Jiaxu; Yang, Cunfang; Sun, Shuai; Shao, Dan; Liu, Kaiyi
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Diagnóstico suave de fallas de circuitos analógicos basado en EEMD y MF-DFA mejorado
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Método de diagnóstico de fallas propuesto
Circuito analógico
Descomposición empírica de patrones en conjunto
Análisis mejorado de fluctuaciones multifractales con tendencia eliminada
Identificación de clasificación
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 52
Citaciones: Sin citaciones
Apuntando a los problemas de no linealidad y confusión seria de las características de falla en circuitos analógicos, este documento propuso un método de diagnóstico de fallas para un circuito analógico basado en la descomposición empírica de patrones en conjunto (EEMD) y en el análisis mejorado de fluctuaciones en tendencias multifractales (MF-DFA).
Descripción
Apuntando a los problemas de no linealidad y confusión seria de las características de falla en circuitos analógicos, este documento propuso un método de diagnóstico de fallas para un circuito analógico basado en la descomposición empírica de patrones en conjunto (EEMD) y en el análisis mejorado de fluctuaciones en tendencias multifractales (MF-DFA).