La detección de fallas es muy importante para mejorar la confiabilidad de los dispositivos de conversión de energía. Las fallas de los semiconductores de potencia pueden dividirse ampliamente en cortocircuitos y circuitos abiertos y se clasifican aún más en dos tipos dependiendo de si hay un problema interno con el interruptor o el diodo antiparalelo. En este documento, se proponen métodos de diagnóstico de fallas para estados de cortocircuito y circuito abierto, respectivamente. Se propone un método de clasificación y diagnóstico de fallas aplicando una señal de compuerta a cada interruptor para diagnosticar condiciones de cortocircuito. Este método utiliza solo información de la magnitud de corriente, lo que reduce la cantidad de información requerida y disminuye las fallas de diagnóstico debido a errores de ángulo y ruido de corriente. Se propone un método para detectar un interruptor defectuoso aplicando un vector de voltaje y comparando el ángulo de corriente con una tabla de búsqueda para diagnosticar un estado abierto. Se propone un algoritmo de diagnóstico iterativo para prevenir fallas de diagnóstico debido a errores de ángulo y ruido de corriente. La efectividad del método de diagnóstico propuesto se verifica a través de experimentos y simulaciones.