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Detección de defectos en imágenes de microscopía electrónica de transmisión de resolución atómica utilizando aprendizaje automático

Autores: Cho, Philip; Wood, Aihua; Mahalingam, Krishnamurthy; Eyink, Kurt

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2021

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Acceso abierto

Artículo científico
2021

Detección de defectos en imágenes de microscopía electrónica de transmisión de resolución atómica utilizando aprendizaje automático


Categoría

Matemáticas

Subcategoría

Matemáticas generales

Palabras clave

Defectos puntuales
Materiales
Microscopía electrónica de transmisión
Aprendizaje automático
Métodos supervisados
Redes neuronales convolucionales

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 39

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Los defectos puntuales juegan un papel fundamental en el descubrimiento de nuevos materiales debido a su fuerte influencia en las propiedades y el comportamiento del material.

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