Afrontando el problema de la alta tasa de detección falsa y de detección perdida de defectos en la superficie de las manzanas en entornos complejos, se ha diseñado una nueva red de detección de defectos en la superficie de las manzanas: red piramidal de características guiadas por contexto de Atención Vacía Multi-escala de convolución espacio-a-profundidad-You Only Look Once versión 8 nano (SMC-YOLOv8n).