La temperatura de trabajo es un factor que tiene una fuerte influencia en el funcionamiento de un elemento electrónico semiconductor. La operación de un elemento electrónico a una temperatura excesiva provoca que el elemento no funcione correctamente. Por esta razón, es necesario monitorear la temperatura del elemento. Uno de los métodos que permite monitorear la temperatura de un elemento electrónico es la termografía. Este método sin contacto también se puede utilizar durante la operación del elemento electrónico. La lectura de una cámara térmica depende de varios factores. Uno de estos factores es la nitidez de las termografías registradas. Por esta razón, se llevó a cabo una investigación para desarrollar una herramienta sencilla que permita una clasificación clara de las termografías de los elementos electrónicos en termografías nítidas y no nítidas. En la investigación realizada, la nitidez de las termografías registradas de los elementos electrónicos se determinó mediante diferentes medidas de nitidez. En la investigación, se demostró que en el caso de las termografías clasificadas como nítidas, se obtuvo un menor error de medición de temperatura con el uso de una cámara de imágenes térmicas.