Influencia de defectos estructurales en la resistividad y campo de flujo de corriente en capas delgadas conductoras
Autores: Pawowski, Stanisaw; Plewako, Jolanta; Korzeniewska, Ewa
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Influencia de defectos estructurales en la resistividad y campo de flujo de corriente en capas delgadas conductoras
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Influencia
Microfisuras
Capas conductoras
Defectos
Resistencia
Simulaciones
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 39
Citaciones: Sin citaciones
El documento presenta un análisis de la influencia de microfisuras en capas conductoras textrónicas en sus propiedades conductoras.
Descripción
El documento presenta un análisis de la influencia de microfisuras en capas conductoras textrónicas en sus propiedades conductoras.