Un convertidor de tiempo a digital configurable de resolución con baja sensibilidad PVT para aplicaciones LiDAR
Autores: Sheng, Duo; Huang, Hao-Ting; Liu, Ruey-Lin; Cheng, Cheng-I; Wang, Xiao-Ti
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Un convertidor de tiempo a digital configurable de resolución con baja sensibilidad PVT para aplicaciones LiDAR
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Propuesto
Tdc
Resolución
Configurable
Pvt
Sensibilidad
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 34
Citaciones: Sin citaciones
Este documento presenta un convertidor de tiempo a digital (TDC) de resolución totalmente digital y configurable con baja sensibilidad a procesos-voltaje-temperatura (PVT) para aplicaciones de detección y alcance de luz (LiDAR). El TDC propuesto ofrece una resolución configurable, lo que le permite proporcionar una resolución de conversión adecuada de acuerdo con los requisitos del sistema, optimizando así el rendimiento general del sistema. Además, debido a que el TDC propuesto tiene una alta inmunidad a las variaciones de procesos-voltaje-temperatura (PVT), proporciona resultados de conversión de tiempo más estables. El diseño propuesto utiliza tecnología CMOS de 0,18 m, y los resultados de medición demuestran una resolución que varía de 36 ps a 1193 ps, con un rango de conversión de 0,1 ns a 36 ns y un error promedio de 20,59 ps. Además, el TDC propuesto se implementa de manera totalmente digital, lo que lo hace muy adecuado para la integración del sistema.
Descripción
Este documento presenta un convertidor de tiempo a digital (TDC) de resolución totalmente digital y configurable con baja sensibilidad a procesos-voltaje-temperatura (PVT) para aplicaciones de detección y alcance de luz (LiDAR). El TDC propuesto ofrece una resolución configurable, lo que le permite proporcionar una resolución de conversión adecuada de acuerdo con los requisitos del sistema, optimizando así el rendimiento general del sistema. Además, debido a que el TDC propuesto tiene una alta inmunidad a las variaciones de procesos-voltaje-temperatura (PVT), proporciona resultados de conversión de tiempo más estables. El diseño propuesto utiliza tecnología CMOS de 0,18 m, y los resultados de medición demuestran una resolución que varía de 36 ps a 1193 ps, con un rango de conversión de 0,1 ns a 36 ns y un error promedio de 20,59 ps. Además, el TDC propuesto se implementa de manera totalmente digital, lo que lo hace muy adecuado para la integración del sistema.