Contextos a corto plazo y pruebas imperfectas para planes de muestreo continuo
Autores: Rodriguez, Mirella; Jeske, Daniel R.
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2018
Acceso abierto
Artículo científico
2018
Contextos a corto plazo y pruebas imperfectas para planes de muestreo continuo
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería de Software
Palabras clave
Planes de muestreo continuo
Calidad
Frecuencia de inspección
Artículos defectuosos
Calidad percibida por el cliente
Esfuerzo de inspección
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 33
Citaciones: Sin citaciones
Los planes de muestreo continuo se utilizan para garantizar un alto nivel de calidad para los artículos producidos en contextos de producción a largo plazo.
Descripción
Los planes de muestreo continuo se utilizan para garantizar un alto nivel de calidad para los artículos producidos en contextos de producción a largo plazo.