Comparación de la sensibilidad a la dosis total de ionización de un sistema en paquete convertidor punto de carga utilizando enfoques de prueba a nivel de componente y sistema
Autores: Rajkowski, Tomasz; Saigné, Frédéric; Niskanen, Kimmo; Boch, Jérôme; Maraine, Tadec; Kohler, Pierre; Dubus, Patrick; Touboul, Antoine; Wang, Pierre-Xiao
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2021
Acceso abierto
Artículo científico
2021
Comparación de la sensibilidad a la dosis total de ionización de un sistema en paquete convertidor punto de carga utilizando enfoques de prueba a nivel de componente y sistema
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Pruebas a nivel de sistema
Sensibilidad
Convertidor punto de carga
Dosis total de ionización
Irradiaciones TID
Procesos de falla
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 39
Citaciones: Sin citaciones
La prueba a nivel de sistema se evalúa midiendo la sensibilidad de los parámetros del convertidor de punto de carga (PoL), sometidos a irradiaciones de dosis total de ionización (TID), tanto a nivel de sistema como de componente. La prueba a nivel de sistema muestra que el sistema completo puede ser completamente funcional a un nivel de TID más de dos veces más alto que el nivel de calificación obtenido utilizando un enfoque a nivel de componente basado en estándares. El análisis de los procesos de fallo muestra que la tolerancia de TID durante la prueba a nivel de sistema se incrementa debido a la compensación interna en el sistema. Finalmente, se discuten las ventajas y desventajas de la prueba a nivel de sistema.
Descripción
La prueba a nivel de sistema se evalúa midiendo la sensibilidad de los parámetros del convertidor de punto de carga (PoL), sometidos a irradiaciones de dosis total de ionización (TID), tanto a nivel de sistema como de componente. La prueba a nivel de sistema muestra que el sistema completo puede ser completamente funcional a un nivel de TID más de dos veces más alto que el nivel de calificación obtenido utilizando un enfoque a nivel de componente basado en estándares. El análisis de los procesos de fallo muestra que la tolerancia de TID durante la prueba a nivel de sistema se incrementa debido a la compensación interna en el sistema. Finalmente, se discuten las ventajas y desventajas de la prueba a nivel de sistema.