Análisis de diferencia en el método equivalente de densidad areal de aluminio en el análisis de blindaje de dosis total ionizante de dispositivos semiconductores
Autores: Liu, Mingyu; He, Chengfa; Feng, Jie; Xun, Mingzhu; Sun, Jing; Li, Yudong; Guo, Qi
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Análisis de diferencia en el método equivalente de densidad areal de aluminio en el análisis de blindaje de dosis total ionizante de dispositivos semiconductores
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Entorno de radiación espacial
Efecto de la radiación
Dispositivos electrónicos
Efecto total de dosis ionizante
Resistencia a la radiación
Dosis de protección
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
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Citaciones: Sin citaciones
El entorno de radiación espacial tiene un efecto de radiación en los dispositivos electrónicos, especialmente el efecto de dosis ionizante total, que afecta seriamente la vida útil de los dispositivos electrónicos y equipos electrónicos de las naves espaciales en órbita. Por lo tanto, es particularmente importante mejorar la resistencia a la radiación de los dispositivos electrónicos.
Descripción
El entorno de radiación espacial tiene un efecto de radiación en los dispositivos electrónicos, especialmente el efecto de dosis ionizante total, que afecta seriamente la vida útil de los dispositivos electrónicos y equipos electrónicos de las naves espaciales en órbita. Por lo tanto, es particularmente importante mejorar la resistencia a la radiación de los dispositivos electrónicos.