Un análisis comparativo entre BEOL estándar y optimizado para ondas milimétricas en una tecnología CMOS a escala nanométrica
Autores: Ragonese, Egidio; Nocera, Claudio; Cavarra, Andrea; Papotto, Giuseppe; Spataro, Simone; Palmisano, Giuseppe
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Un análisis comparativo entre BEOL estándar y optimizado para ondas milimétricas en una tecnología CMOS a escala nanométrica
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Tecnologías CMOS de 28 nm
Optimizado para ondas milimétricas
Línea final
Mejoras de rendimiento
Frecuencias de ondas milimétricas
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 35
Citaciones: Sin citaciones
Este documento presenta una extensa comparación de dos tecnologías CMOS de 28 nm, es decir, estándar y optimizada para ondas milimétricas (es decir, metales gruesos y óxidos intermetálicos) en la línea de backend (BEOL). La comparación propuesta se realiza tanto a nivel de componente como de circuito mediante un análisis cuantitativo de las mejoras reales de rendimiento debido a la adopción de un BEOL optimizado para ondas milimétricas.
Descripción
Este documento presenta una extensa comparación de dos tecnologías CMOS de 28 nm, es decir, estándar y optimizada para ondas milimétricas (es decir, metales gruesos y óxidos intermetálicos) en la línea de backend (BEOL). La comparación propuesta se realiza tanto a nivel de componente como de circuito mediante un análisis cuantitativo de las mejoras reales de rendimiento debido a la adopción de un BEOL optimizado para ondas milimétricas.