Novel técnicas de colocación de TMR completo para circuitos integrados digitales de alta velocidad tolerantes a la radiación
Autores: Appels, Karel; Prinzie, Jeffrey
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Novel técnicas de colocación de TMR completo para circuitos integrados digitales de alta velocidad tolerantes a la radiación
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Novela
Triple Modular Redundant
TMR
Circuitos integrados digitales
Entorno de radiación severa
Tecnología CMOS
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 29
Citaciones: Sin citaciones
Este documento presenta una novedosa metodología de implementación física para circuitos integrados digitales de Triple Modular Redundant (TMR) de alta velocidad para aplicaciones en entornos de radiación severa. Se presenta un enfoque distribuido mejorado para limitar las ramas redundantes de las celdas lógicas digitales de Triple Modular Redundant (TMR) utilizando microdiseños repetitivos e intercalados. Para limitar de manera óptima la ubicación de las celdas secuenciales y combinatorias, se utiliza la lista de redes TMR para segmentar la lógica en grupos no relacionados que permiten compartir sin comprometer la confiabilidad. La técnica fue evaluada en una tecnología CMOS a granel de 65 nm y se realiza una comparación con métodos convencionales.
Descripción
Este documento presenta una novedosa metodología de implementación física para circuitos integrados digitales de Triple Modular Redundant (TMR) de alta velocidad para aplicaciones en entornos de radiación severa. Se presenta un enfoque distribuido mejorado para limitar las ramas redundantes de las celdas lógicas digitales de Triple Modular Redundant (TMR) utilizando microdiseños repetitivos e intercalados. Para limitar de manera óptima la ubicación de las celdas secuenciales y combinatorias, se utiliza la lista de redes TMR para segmentar la lógica en grupos no relacionados que permiten compartir sin comprometer la confiabilidad. La técnica fue evaluada en una tecnología CMOS a granel de 65 nm y se realiza una comparación con métodos convencionales.