Un método de clasificación de cáncer de piel basado en la reconstrucción de características de muestreo hacia abajo de wavelet discreto
Autores: Wu, Qing-e; Yu, Yao; Zhang, Xinyang
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Un método de clasificación de cáncer de piel basado en la reconstrucción de características de muestreo hacia abajo de wavelet discreto
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Método propuesto
Diagnóstico de cáncer de piel
Submuestreo de wavelet
Reconstrucción de características
Modelo de clasificación
Información de canal
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 39
Citaciones: Sin citaciones
A la luz de los problemas de pérdida de información de características durante el muestreo descendente, la capacidad de caracterización insuficiente y la baja utilización de la información del canal en el diagnóstico del cáncer de piel de melanoma, en este documento se propone un método de clasificación de espejo patológico de piel basado en la reconstrucción de características de muestreo descendente de onda discreta.
Descripción
A la luz de los problemas de pérdida de información de características durante el muestreo descendente, la capacidad de caracterización insuficiente y la baja utilización de la información del canal en el diagnóstico del cáncer de piel de melanoma, en este documento se propone un método de clasificación de espejo patológico de piel basado en la reconstrucción de características de muestreo descendente de onda discreta.