En este estudio, se propone un controlador de proyector IR novedoso que puede minimizar la falta de uniformidad en los circuitos eléctricos, utilizando una estructura de doble programación de corriente, para generar escenas infrarrojas (IR) de alta calidad para una evaluación precisa del sensor. A diferencia de la estructura de modo de corriente convencional, el sistema propuesto reduce la falta de uniformidad de píxel a píxel asignando dos funciones (muestreo de datos y conducción de corriente) a un solo transistor. Se diseñó y fabricó un prototipo del circuito propuesto utilizando el proceso CMOS de SK-Hynix de 0.18 um, y su rendimiento se analizó utilizando datos de simulación posteriores al diseño. Se verificó que la falta de uniformidad, definida como la desviación estándar dividida por la radiación media, podría reducirse del 21% a menos del 0.1%.