El artículo demuestra una técnica original y no destructiva que podría utilizarse para monitorear in situ el transporte de carga en diodos orgánicos emisores de luz. La espectroscopía de impedancia se aplicó con éxito para determinar la movilidad de los portadores de carga de un OLED y la densidad de carga promedio en la capa de transporte de agujeros y en la capa de transporte de electrones en un rango de voltajes aplicados. Los dispositivos fabricados estaban compuestos por dos materiales comercialmente disponibles: NPB (,-di(1-naftil)-,-difeno-(1,1-bifenilo)-4,4-diamina) y TPBi (2,2,2-(1,3,5-Bencinetriilo)-tris(1-fenil-1-H-benzimidazol)) como capas de transporte de agujeros y electrones, respectivamente. Al variar los grosores de la capa de transporte de agujeros (HTL) y la capa de transporte de electrones (ETL), se observaron correlaciones entre el grosor de la capa y tanto la movilidad de los portadores de carga como la densidad de carga. Se ha demostrado la posibilidad de utilizar las dependencias reveladas para predecir las características de corriente-voltaje del diodo en un amplio rango de voltaje aplicado. La técnica basada en un análisis detallado de las movilidades y densidades de los portadores de carga es útil para elegir los grosores apropiados de la capa de transporte basándose en una investigación de un conjunto de muestras de referencia. Una característica importante del trabajo es su impacto en el desarrollo de métodos de investigación fundamentales que involucran el análisis de respuesta en frecuencia de CA al proporcionar una metodología esencial sobre el procesamiento de datos.