Caracterización de dispositivos GaN y SiC mediante un sistema de medición integrado especializado
Autores: Vella, Alberto; Galioto, Giuseppe; Vitale, Gianpaolo; Lullo, Giuseppe; Giaconia, Giuseppe Costantino
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Caracterización de dispositivos GaN y SiC mediante un sistema de medición integrado especializado
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Propone
Comparación
Parámetros
Medidos
Sistema
Dispositivos
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 34
Citaciones: Sin citaciones
Este trabajo propone una comparación entre los principales parámetros de los dispositivos GaN y SiC medidos con un sistema integrado dedicado y de bajo costo, empleando un microcontrolador STM32 diseñado para este propósito.
Descripción
Este trabajo propone una comparación entre los principales parámetros de los dispositivos GaN y SiC medidos con un sistema integrado dedicado y de bajo costo, empleando un microcontrolador STM32 diseñado para este propósito.