Bridging the gap between physical and circuit analysis for variability-aware microwave design: power amplifier design
Autores: Donati Guerrieri, Simona; Ramella, Chiara; Catoggio, Eva; Bonani, Fabrizio
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Bridging the gap between physical and circuit analysis for variability-aware microwave design: power amplifier design
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Variabilidad inducida por el proceso
Circuitos integrados
Circuitos integrados monolíticos de microondas
Tecnologías de semiconductores
Estructuras pasivas
Análisis estadístico
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 24
Citaciones: Sin citaciones
La variabilidad inducida por el proceso (PIV) derivada de la tolerancia de fabricación puede afectar el rendimiento de los circuitos integrados.
Descripción
La variabilidad inducida por el proceso (PIV) derivada de la tolerancia de fabricación puede afectar el rendimiento de los circuitos integrados.