Modelo de auto-mezcla de rectificación terahercios en una capacitancia de semiconductor de óxido metálico
Autores: Palma, Fabrizio
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Modelo de auto-mezcla de rectificación terahercios en una capacitancia de semiconductor de óxido metálico
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
óxido semiconductor de metal
Capacitancia
Transistores de efecto de campo
Imágenes de terahercios
Teoría de detección de ondas de plasma
Proceso de auto-mezcla
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 28
Citaciones: Sin citaciones
La capacitancia de óxido metálico semiconductor (MOS) dentro de los transistores de efecto de campo son de gran interés en la imagen de terahercios (THz), ya que permiten la detección de alta sensibilidad y alta resolución de especies químicas e imágenes utilizando tecnología de circuitos integrados.
Descripción
La capacitancia de óxido metálico semiconductor (MOS) dentro de los transistores de efecto de campo son de gran interés en la imagen de terahercios (THz), ya que permiten la detección de alta sensibilidad y alta resolución de especies químicas e imágenes utilizando tecnología de circuitos integrados.