Análisis teórico del tiempo transitorio del voltaje de rectificación de auto-mezcla THz en una barrera semiconductor
Autores: Palma, Fabrizio
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Análisis teórico del tiempo transitorio del voltaje de rectificación de auto-mezcla THz en una barrera semiconductor
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Detección de THz
Estructura de silicio
Comunicaciones
Auto-mezcla
Ancho de banda
Estructura de semiconductor
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 42
Citaciones: Sin citaciones
La detección de THz en una estructura de silicio puede ser un instrumento efectivo no solo para la detección de imágenes, y la detección de materiales y gases, sino también para las comunicaciones.
Descripción
La detección de THz en una estructura de silicio puede ser un instrumento efectivo no solo para la detección de imágenes, y la detección de materiales y gases, sino también para las comunicaciones.