Análisis de la Reflectancia de QualitySpec Trek a partir de Perfiles Verticales del Manto Nival de Taiga
Autores: Leppänen, Leena; Kontu, Anna
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2018
Acceso abierto
Artículo científico
2018
Análisis de la Reflectancia de QualitySpec Trek a partir de Perfiles Verticales del Manto Nival de Taiga
Categoría
Ciencias Naturales y Subdisciplinas
Subcategoría
Ciencias de la Tierra y Geología
Palabras clave
Microestructura de la nieve
Microondas
Teledetección óptica
área de superficie específica
Reflectancia
IceCube
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 16
Citaciones: Sin citaciones
La microestructura de la nieve es un factor importante para la teledetección por microondas y óptica de la nieve. Un parámetro utilizado para describirla es el área de superficie específica (SSA), que se define como la relación entre el área de superficie y la masa de los granos de nieve. La reflectancia en longitudes de onda del infrarrojo cercano (NIR) y del infrarrojo de onda corta (SWIR) es sensible al tamaño de los granos y, por lo tanto, también a la SSA a través de la relación teórica entre la SSA y el tamaño equivalente óptico de los granos. Para observar la SSA, el IceCube mide la reflectancia hemisférica de un diodo láser de 1310 nm desde la superficie de la muestra de nieve. El instrumento portátil QualitySpec Trek (QST) recientemente desarrollado mide la reflectancia espectral casi bidireccional en el rango de 350-2500 nm con contacto directo con el objeto. La geometría es similar a la de la Sonda de Contacto, que se utilizó anteriormente con éxito para mediciones de nieve. El conjunto de datos recopilado incluye cinco mediciones de pozos de nieve realizadas utilizando tanto IceCube como QST en un manto de nieve de taiga en la primavera de 2017 en Sodankylä, Finlandia. En este estudio, se investiga la correlación entre la SSA y una relación de la reflectancia de 1260 nm para diferenciar entre las reflectancias de 1260 nm y 1160 nm. El coeficiente de correlación varió entre 0.85 y 0.98, lo que demuestra una relación lineal empírica entre la SSA y las observaciones de reflectancia de QST.
Descripción
La microestructura de la nieve es un factor importante para la teledetección por microondas y óptica de la nieve. Un parámetro utilizado para describirla es el área de superficie específica (SSA), que se define como la relación entre el área de superficie y la masa de los granos de nieve. La reflectancia en longitudes de onda del infrarrojo cercano (NIR) y del infrarrojo de onda corta (SWIR) es sensible al tamaño de los granos y, por lo tanto, también a la SSA a través de la relación teórica entre la SSA y el tamaño equivalente óptico de los granos. Para observar la SSA, el IceCube mide la reflectancia hemisférica de un diodo láser de 1310 nm desde la superficie de la muestra de nieve. El instrumento portátil QualitySpec Trek (QST) recientemente desarrollado mide la reflectancia espectral casi bidireccional en el rango de 350-2500 nm con contacto directo con el objeto. La geometría es similar a la de la Sonda de Contacto, que se utilizó anteriormente con éxito para mediciones de nieve. El conjunto de datos recopilado incluye cinco mediciones de pozos de nieve realizadas utilizando tanto IceCube como QST en un manto de nieve de taiga en la primavera de 2017 en Sodankylä, Finlandia. En este estudio, se investiga la correlación entre la SSA y una relación de la reflectancia de 1260 nm para diferenciar entre las reflectancias de 1260 nm y 1160 nm. El coeficiente de correlación varió entre 0.85 y 0.98, lo que demuestra una relación lineal empírica entre la SSA y las observaciones de reflectancia de QST.