Con la escalada agresiva del tamaño de las características, la Inestabilidad de la Temperatura del Sesgo Negativo (NBTI) y la Variación del Proceso (PV) se han convertido en problemas importantes para la fiabilidad de los circuitos y el rendimiento. En este documento, analizamos la variación de la demora de la compuerta al considerar conjuntamente los efectos de NBTI y PV. Utilizando la interfaz de aprendizaje de Regresión de Proceso Gaussiano (GPR), se propone un marco de Extracción Estadística de Demora de Compuerta (SGDE). Se simulan tipos típicos de compuertas lógicas con tecnología comercial de 28 nm para verificar el rendimiento de SGDE en el experimento. En comparación con los datos de referencia, los resultados muestran que nuestro enfoque propuesto logra una pérdida mínima de precisión con una significativa aceleración del tiempo de ejecución.