Este estudio investiga, por primera vez, el producto de estimación de espaciamiento de los parámetros de distribución exponencial modificada de Kies, así como el factor de aceleración utilizando pruebas de vida parcialmente aceleradas bajo el esquema de censura Tipo-II. Además de este enfoque, también se considera el método convencional de máxima verosimilitud. Las estimaciones puntuales y los intervalos de confianza aproximados de los parámetros desconocidos se obtienen utilizando los dos métodos. Además, se discuten dos intervalos de confianza de bootstrap paramétrico basados en ambos métodos de estimación. Se realizan extensos estudios de simulación considerando diferentes esquemas de censura para examinar la eficiencia de cada método de estimación. Finalmente, se analizan dos conjuntos de datos reales para los tiempos de descomposición del aceite del fluido aislante y la movilidad de electrones minoritarios para mostrar la aplicabilidad de los diferentes métodos. Además, se estiman la función de confiabilidad y el tiempo medio hasta la falla bajo condiciones de uso normal utilizando ambos métodos. Basándonos en los resultados de la simulación de Monte Carlo y el análisis de datos reales, recomendamos usar el máximo producto de espaciamiento para evaluar tanto las estimaciones puntuales como los intervalos para los parámetros de distribución exponencial modificada de Kies en presencia de datos censurados Tipo-II parcialmente acelerados bajo estrés constante.