Estimación de vida útil y análisis de riesgo de falla en una etapa de potencia utilizada en sistemas de energía híbrida eólica-celda de combustible
Autores: Rastayesh, Sima; Bahrebar, Sajjad; Bahman, Amir Sajjad; Sørensen, John Dalsgaard; Blaabjerg, Frede
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2019
Acceso abierto
Artículo científico
2019
Estimación de vida útil y análisis de riesgo de falla en una etapa de potencia utilizada en sistemas de energía híbrida eólica-celda de combustible
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Metodología
Análisis de modos de falla y efectos
Sistemas híbridos de energía eólica-célula de combustible
Análisis de árbol de fallas
Evaluación de confiabilidad
MOSFET
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 33
Citaciones: Sin citaciones
Este documento presenta una metodología basada en el análisis de modos y efectos de falla (FMEA) para analizar las fallas en la etapa de potencia de los sistemas de energía híbrida eólica-célula de combustible. Además, se aplica el análisis del árbol de fallas (FTA) para describir las fallas probabilísticas en los subcomponentes vitales. Finalmente, la evaluación de la confiabilidad del sistema se lleva a cabo para una operación de cinco años garantizada por el fabricante. Por lo tanto, el análisis de confiabilidad demuestra que el transistor de efecto de campo de óxido de metal semiconductor (MOSFET) y el capacitor electrolítico son los componentes más críticos que introducen daños en el circuito de potencia. Además, un estudio comparativo sobre la evaluación de confiabilidad mediante la distribución exponencial y la distribución de Weibull muestra que la vida útil B1 obtenida por la distribución de Weibull se acerca más a la realidad.
Descripción
Este documento presenta una metodología basada en el análisis de modos y efectos de falla (FMEA) para analizar las fallas en la etapa de potencia de los sistemas de energía híbrida eólica-célula de combustible. Además, se aplica el análisis del árbol de fallas (FTA) para describir las fallas probabilísticas en los subcomponentes vitales. Finalmente, la evaluación de la confiabilidad del sistema se lleva a cabo para una operación de cinco años garantizada por el fabricante. Por lo tanto, el análisis de confiabilidad demuestra que el transistor de efecto de campo de óxido de metal semiconductor (MOSFET) y el capacitor electrolítico son los componentes más críticos que introducen daños en el circuito de potencia. Además, un estudio comparativo sobre la evaluación de confiabilidad mediante la distribución exponencial y la distribución de Weibull muestra que la vida útil B1 obtenida por la distribución de Weibull se acerca más a la realidad.