Esta revisión presenta una investigación sobre los avances incrementales en la arquitectura YOLO (You Only Look Once) y sus derivados, con un enfoque específico en sus contribuciones fundamentales para mejorar la inspección de calidad en el ámbito fotovoltaico (PV). El enfoque de una sola etapa de YOLO para la detección de objetos lo ha convertido en una opción preferida debido a su eficiencia. La revisión descubre los principales impulsores del éxito en cada variante, desde redes de agregación de rutas hasta arquitecturas de agregación de capas eficientes generalizadas e información de gradiente programable, presentadas en la última variante, YOLOv10, lanzada en mayo de 2024. Mirando hacia el futuro, la revisión predice una tendencia significativa en la investigación futura, indicando un cambio hacia el refinamiento de las variantes de YOLO para abordar una gama más amplia de escenarios de fallos en PV. Si bien las discusiones actuales se centran principalmente en la detección de micro-grietas, se reconoce una oportunidad de expansión. Se espera que los investigadores profundicen en los mecanismos de atención dentro de la arquitectura YOLO, reconociendo su potencial para mejorar significativamente las capacidades de detección, particularmente para fallos sutiles e intrincados.