Modelado y análisis simple de los efectos de la dosis total de ionización en amplificadores de bajo ruido de radiofrecuencia
Autores: Kim, Taeyeong; Ryu, Gyungtae; Lee, Jongho; Cho, Moon-Kyu; Fleetwood, Daniel M.; Cressler, John. D.; Song, Ickhyun
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Modelado y análisis simple de los efectos de la dosis total de ionización en amplificadores de bajo ruido de radiofrecuencia
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Degradación
Frecuencia de radio
LNA
Dosis ionizante
SiGe HBTs
Nivel de circuito
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 51
Citaciones: Sin citaciones
En este estudio, se investigan las características de degradación de los amplificadores de bajo ruido de radiofrecuencia (RF-LNA) debido a una dosis total de ionización (TID).
Descripción
En este estudio, se investigan las características de degradación de los amplificadores de bajo ruido de radiofrecuencia (RF-LNA) debido a una dosis total de ionización (TID).