Análisis de defectos a nivel de chip con obleas virtuales basadas en el manejo de grandes datos para la producción de semiconductores
Autores: Kim, Jinsik; Joe, Inwhee
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Análisis de defectos a nivel de chip con obleas virtuales basadas en el manejo de grandes datos para la producción de semiconductores
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Semiconductores
Defectos
Defectos encontrados por el cliente
Análisis de causa raíz
VBADs
Arquitectura MPP
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 36
Citaciones: Sin citaciones
Los semiconductores continúan reduciendo su tamaño de matriz debido a beneficios como ahorro de costes, menor consumo de energía y mejor rendimiento.
Descripción
Los semiconductores continúan reduciendo su tamaño de matriz debido a beneficios como ahorro de costes, menor consumo de energía y mejor rendimiento.