Diagnóstico de circuitos analógicos: el problema de la ambigüedad de las soluciones de ecuaciones de prueba
Autores: Hagas, Stanisaw
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Diagnóstico de circuitos analógicos: el problema de la ambigüedad de las soluciones de ecuaciones de prueba
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Diagnóstico
Circuitos electrónicos analógicos
Ecuación de prueba
Parámetros defectuosos
No lineal
Soluciones múltiples
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
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Citaciones: Sin citaciones
El diagnóstico de circuitos electrónicos analógicos es un tema crucial en el diseño asistido por computadora. Durante el diagnóstico, resolver una ecuación de prueba para identificar los valores de los parámetros defectuosos suele ser necesario. La ecuación es no lineal para los parámetros, incluso para circuitos lineales. La no linealidad de la ecuación implica la posibilidad de múltiples soluciones. No existe un método que garantice la determinación de todas las soluciones de la ecuación de prueba. Sin embargo, incluso la información sobre más de una solución existente es esencial para el diseñador. Permite la selección de otra prueba en el paso de diseño y ayuda a obtener una solución inequívoca durante el diagnóstico. La información sobre la posibilidad de soluciones adicionales es esencial para la simulación después de los métodos de prueba (por ejemplo, métodos de identificación y verificación) y para la simulación antes de los métodos de prueba, los llamados métodos de diccionario, especialmente aquellos que apuntan a la clasificación de múltiples fallas. El documento aborda el problema de múltiples soluciones de la ecuación de prueba para circuitos DC no lineales y propone un método para identificar las soluciones utilizando una técnica de deflación. Los resultados se comparan con los obtenidos utilizando métodos iterativos estándar y adaptativamente amortiguados de Newton-Raphson. Los métodos utilizan suposiciones iniciales seleccionadas al azar para encontrar múltiples soluciones. La efectividad de todos los métodos para identificar múltiples soluciones se verificó numéricamente y a través de pruebas de laboratorio.
Descripción
El diagnóstico de circuitos electrónicos analógicos es un tema crucial en el diseño asistido por computadora. Durante el diagnóstico, resolver una ecuación de prueba para identificar los valores de los parámetros defectuosos suele ser necesario. La ecuación es no lineal para los parámetros, incluso para circuitos lineales. La no linealidad de la ecuación implica la posibilidad de múltiples soluciones. No existe un método que garantice la determinación de todas las soluciones de la ecuación de prueba. Sin embargo, incluso la información sobre más de una solución existente es esencial para el diseñador. Permite la selección de otra prueba en el paso de diseño y ayuda a obtener una solución inequívoca durante el diagnóstico. La información sobre la posibilidad de soluciones adicionales es esencial para la simulación después de los métodos de prueba (por ejemplo, métodos de identificación y verificación) y para la simulación antes de los métodos de prueba, los llamados métodos de diccionario, especialmente aquellos que apuntan a la clasificación de múltiples fallas. El documento aborda el problema de múltiples soluciones de la ecuación de prueba para circuitos DC no lineales y propone un método para identificar las soluciones utilizando una técnica de deflación. Los resultados se comparan con los obtenidos utilizando métodos iterativos estándar y adaptativamente amortiguados de Newton-Raphson. Los métodos utilizan suposiciones iniciales seleccionadas al azar para encontrar múltiples soluciones. La efectividad de todos los métodos para identificar múltiples soluciones se verificó numéricamente y a través de pruebas de laboratorio.