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Altamente estable fuente barrida sintonizada continuamente de cavidad corta en anillo de fibra todo

Autores: Yang, Zhiwei; Wu, Xu; Ouyang, Deqin; Sun, Huibin; Ruan, Shuangchen

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2020

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Acceso abierto

Artículo científico
2020

Altamente estable fuente barrida sintonizada continuamente de cavidad corta en anillo de fibra todo


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Estudio
Fuente barrida
Velocidad de barrido
Estabilidad
Ancho espectral
Frecuencia de escaneo

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 29

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
En este estudio, presentamos una fuente barrida que puede controlar inteligentemente su velocidad de barrido mientras satisface los estándares de estabilidad comercial y miniaturización. La longitud de onda central de la fuente del espectro de salida es de 1300 nm y el ancho espectral es superior a 100 nm. Mientras tanto, la frecuencia de escaneo se puede ajustar en un rango de 20 a 100 kHz, y el grado de estabilidad de la capacidad óptica es inferior al 0,34%. Además, este estudio establece un modelo numérico para el sistema de tomografía de coherencia óptica de fuente barrida (SS-OCT) e introduce una simulación numérica de la señal producida durante el proceso de imagen de OCT. Los resultados de la simulación son útiles para guiar el diseño y la construcción de los futuros sistemas de OCT.

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