Yolo-xray: un algoritmo de detección de defectos de burbujas para imágenes de rayos X de chips basado en YOLOv5 mejorado
Autores: Wang, Jie; Lin, Bin; Li, Gaomin; Zhou, Yuezheng; Zhong, Lijun; Li, Xuan; Zhang, Xiaohu
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Yolo-xray: un algoritmo de detección de defectos de burbujas para imágenes de rayos X de chips basado en YOLOv5 mejorado
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Manufactura
Chips
Detección
Algoritmo
Imágenes de rayos X
Conjunto de datos
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 49
Citaciones: Sin citaciones
En la fabricación de chips, la detección precisa y efectiva de defectos internos de burbujas de los chips es esencial para mantener la fiabilidad del producto.
Descripción
En la fabricación de chips, la detección precisa y efectiva de defectos internos de burbujas de los chips es esencial para mantener la fiabilidad del producto.