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Dscannet: algoritmo de detección de defectos de embalaje basado en modelos selectivos de espacio de estado

Autores: Luo, Yirong; Du, Yanping; Wang, Zhaohua; Mo, Jingtian; Yu, Wenxuan; Dou, Shuihai

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2025

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Acceso abierto

Artículo científico
2025

Dscannet: algoritmo de detección de defectos de embalaje basado en modelos selectivos de espacio de estado


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería de Software

Palabras clave

Desarrollo rápido
Comercio electrónico
Industria logística
Detección de defectos de embalaje
Modelos de detección de objetivos
Objetivos a pequeña escala

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 61

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Con el rápido desarrollo del comercio electrónico y la industria logística, la importancia de la detección de defectos en el embalaje logístico como un eslabón clave en el control de calidad del producto está cada vez más destacada.

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