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Adaptive BIST para pruebas en línea concurrentes en circuitos combinacionales

Autores: Chioktour, Vasileios; Kakarountas, Athanasios

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2022

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Acceso abierto

Artículo científico
2022

Adaptive BIST para pruebas en línea concurrentes en circuitos combinacionales


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Sistemas críticos de seguridad
Pruebas en línea concurrentes
Propiedad de autoverificación total
Autoprueba adaptable incorporada
Vectores de prueba
Valores de entrada.

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 36

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Los sistemas críticos de seguridad que incorporan técnicas de pruebas en línea concurrentes son vulnerables a problemas de diseño que provocan la degradación de la propiedad de autoverificación total (TSC), lo cual se ha demostrado que es fatal para operaciones futuras (por ejemplo, electrónica espacial, dispositivos médicos).

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