Adaptive BIST para pruebas en línea concurrentes en circuitos combinacionales
Autores: Chioktour, Vasileios; Kakarountas, Athanasios
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Adaptive BIST para pruebas en línea concurrentes en circuitos combinacionales
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Sistemas críticos de seguridad
Pruebas en línea concurrentes
Propiedad de autoverificación total
Autoprueba adaptable incorporada
Vectores de prueba
Valores de entrada.
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 36
Citaciones: Sin citaciones
Los sistemas críticos de seguridad que incorporan técnicas de pruebas en línea concurrentes son vulnerables a problemas de diseño que provocan la degradación de la propiedad de autoverificación total (TSC), lo cual se ha demostrado que es fatal para operaciones futuras (por ejemplo, electrónica espacial, dispositivos médicos).
Descripción
Los sistemas críticos de seguridad que incorporan técnicas de pruebas en línea concurrentes son vulnerables a problemas de diseño que provocan la degradación de la propiedad de autoverificación total (TSC), lo cual se ha demostrado que es fatal para operaciones futuras (por ejemplo, electrónica espacial, dispositivos médicos).